美国能源部发布一项新的报告，这份报告中对固态照明产品的寿命和可靠性进行了检测，并清楚地表明，现行标准不足以提供定义系统寿命的适用方法。

  LED器件失效一般分为二种：本质失效和从属失效。本质失效指的是LED芯片引起的失效，又分为电漂移和离子热扩散失效。从属失效一般由封装结构材料、工艺引起，即封装结构和用的环氧、硅胶、导电胶、荧光粉、焊接、引线、工艺、温度等因素引起的。

 在建立测试和评级LED元件及LED照明系统标准的道路上，固态照明行业已经走过了很长的路，虽然正如美国能源部指出的那样，目前还没有明确的方法来评级照明系统的预期寿命。现在，有改良过的方法来测试和反应光通维持率，但其他性能，包括电源寿命和系统级别颜色维护仍很难量化。

  美国能源部发布的题为“寿命和可靠性”的报告，试图定义所有存在的标准和预测方法，存在的缺点从系统层面充分定义了固态照明产品的特点。存在的主要问题包括，现有的方法主要集中在被认为是唯一失效机理的光衰，没有标准化的方法来评级固态照明系统中光源以外的组件。

 IES LM-80标准，提供了确切的白光LED组件的测试方法。LM-80还定义组件的颜色维护和色偏。IES TM-21标准增加了一种方法来预测寿命超过LM-80标准测试要求的6000小时。

 目前还没有办法从系统级层面来测试或预估颜色维护。美国能源部声称，色偏已经不再是一个问题，因为它更多的是不便，而不是一个安全问题，然而光输出下降可能是一个安全问题。尽管如此，照明设计师会考虑将不可接受的色偏当作产品故障。

 IES LM-84标准将定义灯泡及灯具级别的光通量和颜色维持率测试方法。此外，TM-28将规定如何应用LM-84测试数据来反映灯泡寿命，且IES或许在晚些时候将灯具寿命反映方法也添加至TM-28。

 说明书中沒有提及的是使用混合有色LED的、或者远程荧光粉的产品寿命及可靠性该如何反映。現有的标准如LM-80只定义了荧光转换型白光LED的测试方法，但其他系统结构正在某些应用领域逐渐流行。

  LED寿命是指在规定工作条件下，光输出功率或光通量衰减到初始值的70%的工作时间，同时色度变化保持在0.007内。LED平均寿命的意义是LED产品失效前的工作时间的平均值，用MTTF来表示，它是电子器件最常用的可靠性参数。

  影响外延芯片性能及质量的，主要是与外延层特别是P-n结部分的位错和缺陷的数目和分布情况，金属与半导体接触层质量，以及外延层及芯片表面和周边沾污引起离子数目及状况有关。芯片在加热加电条件下，会逐步引起位错、缺陷、表面和周边产生电漂移及离子热扩散，使芯片失效，正是上面所说的本质失效。要提高外延芯片可靠性指标，从根本上要降低外延生长过程中产生的位错和缺陷以及外延层表面和周边的沾污，提高金属与半导体接触质量，从而提高工作寿命的时间。